?DAK-R是一種創新的非破壞性介(jie)電測量(liang)解決方案，專為薄型低損耗基材（厚度0.05–3 mm）設計。
?基于先進的分體(ti)式諧振腔技術（SCR），與傳統諧振(zhen)腔不同，DAK-R通過創新(xin)腔(qiang)體(ti)設計和先進(jin)求解(jie)器，抑制了(le)不必要(yao)的諧振，擴展(zhan)了(le)介電常數測量范圍，
并實(shi)現了(le)同(tong)時(shi)在10 GHz、17 GHz、26 GHz、35 GHz和45 GHz頻率下的(de)寬帶精確測量。
?符合IPC測試方法TM-650 2.5.5.13，DAK-R通過分析共振(zhen)頻率和品(pin)質因數（Q），確定樣品的相對(dui)介電常數和損(sun)耗角正切。
頻率(lv)范(fan)圍 | 同時測量 10、17、26、35、45GHz |
空腔直徑&共振腔長度 | 42mm & 30mm |
待測物要求 | 片狀固體：厚度0.05-3mm（可堆疊(die)） 尺寸(cun)：≥60*60mm |
量(liang)測精度與(yu)范圍 | εr: ±1%， tan δ<0.0001 εr: 1–100 tan δ: 0.00001 - 0.01 |
校準依據 | ILAC-MRA（ISO/IEC 17025 by Swiss Accreditation Service(SCS 108）) |
應用場景(jing) | 低損耗材質，電子(zi)產品外殼、電子(zi)元件介電材料、涂層、基(ji)板 |
