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薄層,固體材料介電導電特性量測系統
薄層,固體材料介電導電特性量測系統

DAK-TL2 薄層材料介電量測系統 用于評估表征(zheng)有(you)限厚度的固體(ti)和半固體(ti)材料(0.1-10mm厚度)的介電性能以及微量液(ye)體(10-50ml)的液體樣品。

該系統(tong)基于開(kai)放(fang)式同軸探頭(tou),并配(pei)備(bei)了用于(yu)自(zi)動測量樣(yang)品厚度和施加力的電子設備(bei),以實現高重復性測量。

例如:柔性材(cai)料、皮革、軟塑料等(deng)等(deng)。

另(ling)可根據頻段(duan)范圍和測(ce)試材料的大小(xiao)與類型配(pei)置不(bu)同(tong)的探頭

準確測量(liang)表征(zheng)液體(ti)、固(gu)體(ti)、粉末和半固體在在(zai)4MHz~67GHz寬頻率范圍內的相(xiang)對介電(dian)常數(ε‘ε“)的實(shi)部和虛部。

提供高(gao)精度(du)介電(dian)參(can)數測量(介電常數、電導率、損(sun)耗(hao)角(jiao)正(zheng)切(qie))



DAK12-TL2

DAK3.5-TL2

DAK1.2E-TL2

頻率范圍

4MHz-600MHz

200MHz-20GHz

5GHz-67GHz

外導體內(nei)徑

12mm

3.5mm

1.2mm

法蘭(lan)直徑

48mm

18mm

18mm

壓力范圍

0-1000N

待測物要求

固體(ti):厚度(du)0.1-10mm  平整度:N5級別        液體:10-50ml

量測精度與范(fan)圍

 重復性精度:±1%    εr:1-800       tan δ: 0.001-10

校準依據

ILAC-MRAISO/IEC 17025 by Swiss   Accreditation Service(SCS 108)

應(ying)用場景

電(dian)子(zi)(zi)產(chan)品外(wai)殼、電(dian)子(zi)(zi)元件介電(dian)材料、小型生物樣(yang)本(ben)、圖層、基板、生化(hua)樣(yang)品


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