DAK開放(fang)式同軸介電測(ce)量系統基于精密的探頭(tou)設計用于覆蓋4 MHz -?67?GHz頻(pin)率范(fan)圍，具有三個開放的(de)(de)同軸介電(dian)探頭(tou)。該(gai)系統(tong)采用先進的(de)(de)算法(fa)和新(xin)穎的(de)(de)硬件(jian)，可以在廣(guang)泛的(de)(de)參數(shu)范(fan)圍內測量液體(ti)(ti)及半固體(ti)(ti)的(de)(de)介電(dian)特性。該(gai)測量方法(fa)快速(su)且對被測材料無損。樣品體(ti)(ti)積應該(gai)足夠大，以確(que)保(bao)樣品邊界處(chu)的(de)(de)反射不會顯著影(ying)響(xiang)測量結果。最小樣本量取(qu)決于頻(pin)率、探頭(tou)尺寸和介電(dian)參數(shu)。
準確測量表征液體(ti)、半(ban)固體(ti)在(zai)(zai)在(zai)(zai)4MHz~67GHz寬頻率范圍內的相(xiang)對介電常數（ε‘和(he)ε“）的實部和虛部。
提供高精度介電(dian)參數測量(介電(dian)(dian)常數、電(dian)(dian)導率、損耗(hao)角正(zheng)切)
